Romania – Diffraction apparatus

Echipament de difractie cu raze X, destinat caracterizării nedistructive a materialelor sintetizate, în vederea determinării structurii cristaline și a parametrilor microstructurali. Acesta va permite analiza unei game largi de materiale (filme subțiri, pulberi, suspensii lichide, membrane), fiind utilizat pentru aplicații precum identificarea și analiza fazelor, rafinare Rietveld, analiză microstructurală, măsurători de reflectivitate, mapare în spațiul reciproc și determinarea stresului rezidual. Echipamentul va face parte dintr-o linie de prototipare de tip „Microfabricarea dispozitivelor semiconductoare”, în cadrul Proiectului PNTS – „Platforma Națională de Tehnologii Semiconductoare”. Echipamentul trebuie să asigure măsurători de înaltă rezoluție, flexibilitate în configurarea experimentală și să fie prevăzut cu sisteme de detecție, software de analiză și mecanisme de operare în condiții de siguranță.